YSi-S
高速度、高精度、混合离线式光学外观检查装置
- 具备XY可达 10µm、Z可达 5 µm的高分辨率
～可避免判定的模糊性，实现与计测器同等的高精度检测～ - 检查速度L330×W250mm的基板平均每张可达25秒(在3层照明的最佳条件下)
- 可选择5种不同的方法实现最佳检查
- 上中下层3色，外加IR的10种图像识别
- 配备500万像素的检查相机
基本规格
| YSi-S | ||
|---|---|---|
| 机型 | YSi-S(型号:KLB-000) | |
| 对象基板 | L50 x W50mm～L510 x W440mm ※可对应L650mm长尺寸基板 | |
| 检查速度 | L330× W250mm基板、21秒(25毫秒 / cm2 或 4,000mm2/ 秒) (3照明的最佳条件) ※分辨率为19μm时:44.6×37.4mm /视图、0.42秒 /视图 |
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| 分辨率 | 可视光(红/绿/蓝)和红外线(Infra-Red):19μm /10μm (出厂前选择) 激光Z(高度):5μm |
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| 检查对象 | 硬化后的焊锡及元件的状态 ※直插式组装工序后、自动焊锡工序后、手动焊锡工序后、基板分割工序后等硬化后的焊锡及元件的状态 |
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| 电源规格 | 単相AC 200/208/220/230 V ±10% 50/60 Hz | |
| 供气源 | 不需要（选配标记笔硬件时需要气源） | |
| 外形尺寸 (突起部分除外) |
L1,08×W1,305×H1,388mm | |
| 主体重量 | 约750kg | |
- 规格、外观如有变动，恕不另行通知。
